Лаборатория «Технология GaN для светодиодов»

Руководитель направления:

Научный коллектив:

  • аспирант Коготков В.С.
  • аспирант Вирко М.В.

Основными направлениями исследований являются:

  1. Получение GaN подложек HVPE методом
  2. Исследование дислокаций и дефектов упаковки в GaN

Цель исследований:

  • Эпитаксиальный рост толстых слоёв GaN для подложек на базе которых создаются светодиоды и лазеры видимого и ультрафиолетового диапазонов спектра .
  • Избранные публикации группы
    1. Bochkareva, N. I., Voronenkov, V. V., Gorbunov, R. I., Virko, M. V., Kogotkov, V. S., Leonidov, A. A., Shreter, Y. G.Hopping conductivity and dielectric relaxation in schottky barriers on GaN Semiconductors, 51(9), 1186-1193 (2017).
    2. Voronenkov, V. V., Virko, M. V., Kogotkov, V. S., Leonidov, A. A., Pinchuk, A. V., Zubrilov, A. S., . . . Shreter, Y. G..On the laser lift-off of lightly doped micrometer-thick n-GaN films from substrates via the absorption of IR radiation in sapphire. Semiconductors, 51(1), 115-121. (2017).
    3. Bochkareva, N.I., Ivanov, A.M., Klochkov, A.V., Kogotkov, V.S., Rebane, Y.T., Virko, M.V., Shreter, Y.G.Hopping transport in the space-charge region of p-n structures with InGaN/GaN QWs as a source of excess 1/f noise and efficiency droop in LEDs Semiconductors 49 (6), pp. 827-835 (2015).
    4. Bochkareva, N.I., Rebane, Y.T., Shreter, Y.G.Efficiency droop and incomplete carrier localization in InGaN/GaN quantum well light-emitting diodesApplied Physics Letters 103 (19), 191101 (2013).
    5. Voronenkov, V., Bochkareva, N., Gorbunov, R., Latyshev, P., Lelikov, Y., Rebane, Y., Tsyuk, A., Zubrilov, A., Shreter, Y.Nature of V-shaped defects in GaNJapanese Journal of Applied Physics 52 (8 PART 2), 08JE14 (2013).
    6. Voronenkov, V.V., Bochkareva, N.I., Gorbunov, R.I., Latyshev, P.E., Lelikov, Y.S., Rebane, Y.T., Tsyuk, A.I., Zubrilov, A.S., Popp, U.W., Strafela, M., Strunk, H.P., Shreter, Y.G.Two modes of HVPE growth of GaN and related macrodefects Physica Status Solidi (C) Current Topics in Solid State Physics 10 (3), pp. 468-471 (2013).
    7. Bochkareva, N.I., Voronenkov, V.V., Gorbunov, R.I., Zubrilov, A.S., Latyshev, P.E., Lelikov, Y.S., Rebane, Y.T., Tsyuk, A.I., Shreter, Y.G.Effect of localized tail states in InGaN on the efficiency droop in GaN light-emitting diodes with increasing current density Semiconductors 46 (8), pp. 1032-1039 (2012).
    8. Bochkareva, N.I., Voronenkov, V.V., Gorbunov, R.I., Zubrilov, A.S., Lelikov, Y.S., Latyshev, P.E., Rebane, Y.T., Tsyuk, A.I., Shreter, Y.G. Defect-related tunneling mechanism of efficiency droop in III-nitride light-emitting diodes Applied Physics Letters 96 (13), 133502 (2010).
    9. Efremov, A.A., Bochkareva, N.I., Gorbunov, R.I., Lavrinovich, D.A., Rebane, Yu.T., Tarkhin, D.V., Shreter, Yu.G.Effect of the joule heating on the quantum efficiency and choice of thermal conditions for high-power blue InGaN/GaN LEDs Semiconductors 40 (5), pp. 605-610 (2006).
    10. Shreter Y.G., Rebane Y.T. Dislocation-related luminescence in GaN, 23rd Int. Conf. On the Physics of Semiconductors, Berlin, 1996, v. 4, p. 2937, World Scientific, Singapure-New Jersey-London-Hong Kong
    11. Rebane, Y.T.Shreter Y.G. Nature of dislocation-related luminescence in diamond, zinc-blend and wurzite-type semiconductors, 1996, Inst. Phys. Conf. Ser No 155, Capter 9, p. 703-706
    12.  Rebane, Y.T.Shreter Y.G., Albrecht M. Stacking faults as quantum wells for electrons in wurtzite GaN, Phys.Stat.Sol.(a), 1997, v. 164, p. 141.

    Учебные пособия

    1. Шретер Ю.Г., Ребане Ю.Т., Зыков В.А., Сидоров В.Г., Широкозонные полупроводники. СПб.: Наука, 2001, 125 с.

    2. Bower, K. E., Barbanel, Y. A., Shreter, Y. G., & Bohnert, G. W. (Eds.). Polymers, phosphors, and voltaics for radioisotope microbatteries. CRC press. (2002).
 Установка роста GaN
Микрофотография поверхности GaN
Фотография поверхности GaN
Выращенные пластины GaN
 Электролюминесценция GaN